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Experimental study on the reasons for low sensitivity and memory effects in the determination of lanthanum and samarium in graphite furnace atomic absorption spectrometry

机译：石墨炉原子吸收光谱法测定镧和mar时灵敏度低和记忆效应低的原因的实验研究

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The reasons for low sensitivity and memory effects in the determination of lanthanum and samarium in graphite furnace atomic absorption spectrometry (GFAAS) have been investigated experimentally using X-ray diffraction analysis (XRD), Auger electron microscopy (AES), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and scanning electron microscopy (SEM). The formation of refractory carbides of La and Sm on the graphite surface is an important reason for their low sensitivity and memory effects. A very high sensitivity has been achieved in the determination of samarium by tantalum probe atomization, but the intercalation of SmTaO_4 into tantalum surface leads to an abrupt decrease in sensitivity.
机译：利用X射线衍射分析（XRD），俄歇电子显微镜（AES），X射线光电子能谱，通过实验研究了石墨炉原子吸收光谱法（GFAAS）中测定镧和mar时灵敏度低和记忆效应低的原因。 （XPS）和扫描电子显微镜（SEM）。在石墨表面形成La和Sm难熔碳化物是其低敏感性和记忆效应的重要原因。通过钽探针原子化法测定of时，已经实现了很高的灵敏度，但是将SmTaO_4嵌入钽表面会导致灵敏度突然下降。

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