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首页> 外文期刊>PASJ: Publications of the Astronomical Society of Japan >OI fluorescent line contamination in soft X-ray diffuse background obtained with Suzaku/XIS
【24h】

OI fluorescent line contamination in soft X-ray diffuse background obtained with Suzaku/XIS

机译：Suzaku / XIS获得的软X射线漫射背景中的OI荧光线污染

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The quantitative measurement of OVII line intensity is a powerful method for understanding the soft X-ray diffuse background. By systematically analyzing the OVII line intensity in 145 high-latitude Suzaku/XIS observations, the flux of OI fluorescent line in the XIS spectrum, contaminating the OVII line, is found to have an increasing trend with time especially after 2011. For these observations, the OVII line intensity would be overestimated unless taking into consideration the OI fluorescent line contamination. Since the OI line emission originates from solar X-rays, this increase suggests that the flux of incident solar X-rays at the OI fluorescence energy tend to be larger than that in the early phase of Suzaku observations (2005–2010).
机译：OVII线强度的定量测量是了解软X射线漫射背景的有力方法。通过对145个高纬度朱雀/ XIS观测中的OVII线强度进行系统分析，发现XIS光谱中的OI荧光线通量受OVII线的污染随时间呈上升趋势，尤其是在2011年之后。对于这些观察，除非考虑到OI荧光线污染，否则OVII线强度将被高估。由于OI线的发射源于太阳X射线，因此这种增加表明，在OI荧光能量下入射太阳X射线的通量往往比朱雀观测早期阶段（2005-2010年）大。

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