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Pattern evolution of crystalline Ge aggregates during annealing of an Al/Ge bilayer film deposited on a SiO_2 substrate

机译:沉积在SiO_2衬底上的Al / Ge双层膜退火期间结晶Ge聚集体的图案演变

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摘要

When an Al/Ge bilayer film deposited on a SiO_2 substrate is annealed at 373-398 K, Ge atoms diffuse out from the inner amorphous Ge layer and spread over the free surface of the outer Al layer to form crystalline Ge aggregates exhibiting complex substructures. Scanning electron microscopy observations indicate that the activation energy for the pattern evolution of Be aggregates on the free surface because of annealing is 1.56eV which is about half the activation energy for crystallization of amorphous Ge.
机译:当沉积在SiO_2衬底上的Al / Ge双层膜在373-398 K退火时,Ge原子从内部非晶Ge层扩散出来并散布在外部Al层的自由表面上,形成具有复杂子结构的结晶Ge聚集体。扫描电子显微镜观察表明,由于退火,用于Be的图案演化的活化能在自由表面上聚集,为1.56eV,约为非晶态Ge结晶活化能的一半。

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