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首页> 外文期刊>Philosophical Magazine Letters >High-resolution imaging of n-alkane crystals by atomic force microscopy
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High-resolution imaging of n-alkane crystals by atomic force microscopy

机译：正构烷烃晶体的原子力显微镜高分辨率成像

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X-ray and electron crystallography of polymethylene chain compounds are known to be hindered by the very strong scattering from a dominant sublattice, and the use of high-resolution electron microscopy is severely limited by radiation damage. This study shows that these problems may be overcome by using high-resolution atomic force microscopy (AFM) imaging. The work was performed on four types of linear alkane crystal, namely n-C_(26)H_(54), n-C_(30)H_(62), n-C_(36)H_(74) and n-C_(44)H_(90), of different molecular lengths. They were prepared by vapour deposition and from solution and deposited on mica and on highly oriented pyrolytic graphite. The results show that firstly AFM may complement, at a molecular and a submolecular level, the data provided by X-ray and electron crystallography, secondly alkane crystals may be prepared with different orientations and the type of substrate has no influence, and thirdly AFM may be used to induce orientational and conformational changes.
机译：众所周知，聚亚甲基链化合物的X射线和电子晶体学受主要亚晶格的非常强的散射的阻碍，高分辨率电子显微镜的使用受到辐射损伤的严重限制。这项研究表明，使用高分辨率原子力显微镜（AFM）成像可以克服这些问题。对四种类型的线性烷烃晶体进行了研究，即n-C_（26）H_（54），n-C_（30）H_（62），n-C_（36）H_（74）和n-C_（ 44）H_（90），具有不同的分子长度。它们是通过气相沉积和溶液制备的，并沉积在云母和高度取向的热解石墨上。结果表明：首先，原子力显微镜可以在分子和亚分子水平上补充X射线和电子晶体学提供的数据;其次，可以制备取向不同的烷烃晶体，并且底物的类型没有影响，其次，原子力显微镜可以用于诱导方向和构象变化。

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