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机译:使用电子通道对比成像(ECCI)表征块体疲劳铜单晶中的位错结构
机译:使用电子通道对比成像(ECCI)表征块体疲劳铜单晶中的位错结构
机译:电子通道对比成像表征与单晶和挤压系统有关的位错结构以及铜单晶中的疲劳裂纹
机译:旋转电子通道对比度成像分析疲劳铜单晶中位错结构
机译:使用高分辨率电子背散射衍射(HR-EBSD)和电子通道对比度成像(ECCI)表征商业纯钛中的滑移传递
机译:单晶镍基高温合金的显微组织和疲劳裂纹扩展的相衬x射线成像。
机译:建模通过精确电子通道对比成像获得的位错对比以表征散装材料中的变形机制
机译:使用电子通道对比成像技术(ECCI)研究疲劳裂纹附近的位错结构。