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首页> 外文期刊>Physica Scripta: An International Journal for Experimental and Theoretical Physics >Electron impact double ionization of singly charged positive ions
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Electron impact double ionization of singly charged positive ions

机译：单电荷正离子的电子碰撞双电离

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Electron impact double ionization cross sections of C+, N+, O+ and Ne+ have been calculated in the modified double binary encounter model using accurate expression for sigma(DeltaE) (cross section for energy transfer DeltaE) given by Vriens and Hartree-Fock velocity distributions for the target electrons. The focussing action of the target ion on the incident electron has been incorporated along the line suggested by Thomas and Garcia. Contributions of ionization-autoionization have been included in the calculations. The present results show satisfactory agreement with experimental data except at low incident energies. [References: 32]
机译：在修正的双二元相遇模型中，使用Vriens给出的sigma（DeltaE）的精确表达式（能量传递DeltaE的截面）和Hartree-Fock速度分布的精确表达式，计算了C +，N +，O +和Ne +的电子碰撞双电离截面。目标电子。目标离子对入射电子的聚焦作用已沿Thomas和Garcia提出的思路纳入其中。计算中已经包含了电离自电离的贡献。目前的结果表明，除低入射能量外，与实验数据的一致性令人满意。 [参考：32]

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