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【24h】

Optische Messung der Schichtdicke

机译:光学测量层厚度

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摘要

Die Fries Research & Technology GmbH (FRT) ermoglicht mit dem neuen Messgerat MicroSpy FT den gunstigen Einstieg in die beruhrungslose Schichtdickenmessung. Das Gerat misst zerstorungsfrei Beschichtungen, die im sichtbaren und nahinfraroten Spektralbereich transparent und halbtransparent sind. Das leicht bedienbare Gerat ist ein single-sensor Messgerat, mit hoher Wirtschaftlichkeit und zugleich optimalen Leistungsdaten. Mit dem3D-Schicht-dickenmapping-Modus konnen neben klassischen Punkt- und Profilmessungen auch vollstandige Flachenabschnitte einer Beschichtung erfasst werden, um zum Beispiel deren Homogenitat zu visualisieren. Messen lassen sich freitragende Schichten wie Folien aber auch Einzel- und Mehrschichtsysteme auf Substraten. Verwendet wird das Gerat fur innovative Produkte der Medizin-, Halbleiter- und Mikrosystem-technik und der Photovoltaik, Optik und Automobilindustrie.
机译:借助新型MicroSpy FT测量设备,Fries Research&Technology GmbH(FRT)使人们能够以可承受的价格进入非接触式涂层厚度测量。该设备可测量在可见光和近红外光谱范围内透明和半透明的非破坏性涂层。易于使用的设备是单传感器测量设备,具有很高的经济效率,同时具有最佳性能数据。利用3D层厚度映射模式,除了经典的点和轮廓测量外,还可以记录涂层的完整表面截面,例如以可视化其均匀性。可以测量诸如箔的自支撑层以及基材上的单层和多层系统。该设备用于医疗,半导体和微系统技术以及光伏,光学和汽车行业的创新产品。

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