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Infrared 45 degrees reflectometry of anisotropic ultrathin films and heterostructures

机译：各向异性超薄膜和异质结构的红外45度反射法

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The theory of infrared 45 degrees reflectometry is revised and generalized to the case of anisotropic very-thin films and heterostructures on substrate. We obtain approximate expressions for the difference Delta(45) = R-p - R-s(2) between the reflectivity for p-polarized light (R-p) and the squared reflectivity for s-polarized light (R-s(2)) at 45 degrees angle of incidence. These results give a good interpretation of frequency spectra of Delta(45) and allow to associate correctly the resonances in Delta(45) With transverse and longitudinal optical phonons in anisotropic films. The application of the infrared 45 degrees renectometry to superlattices is discussed. [References: 36]
机译：对红外45度反射法的理论进行了修改，并将其推广到各向异性的超薄薄膜和基板上的异质结构的情况。我们获得45度入射角下p偏振光（Rp）的反射率和s偏振光（Rs（2））的平方反射率之间的差异Delta（45）= Rp-Rs（2）的近似表达式。这些结果很好地解释了Delta（45）的频谱，并允许将Delta（45）中的共振与各向异性薄膜中的横向和纵向光学声子正确关联。讨论了红外45度肾仪在超晶格中的应用。 [参考：36]

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