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首页> 外文期刊>Physica status solidi, B. Basic research >Optoelectronic performance of poly(p-phenylenevinylene)-based heterostructures evaluated by scanning probe techniques
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Optoelectronic performance of poly(p-phenylenevinylene)-based heterostructures evaluated by scanning probe techniques

机译：聚（对亚苯基亚乙烯基）基异质结构的光电性能通过扫描探针技术评估

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Thin polymer blend films made of donor and acceptor poly- (p-phenylenevinylene) (PPV)-based polymers were prepared. Diverse scanning probe techniques (atomic force microscopy (AFM), Kelvin force microscopy (KFM), current-sensingAFM (CS-AFM), and micro-Raman mapping) are used to characterize morphologic, electronic as well as optoelectronic properties of the heterostructures. Morphologies of the heterostructures are correlated with microscopic and macroscopic electronic response to a broad-band visible illumination. The data are discussed with respect to photovoltaic applications.
机译：制备了由施主和受主聚（对亚苯基亚乙烯基）（PPV）基聚合物制成的聚合物共混薄膜。使用多种扫描探针技术（原子力显微镜（AFM），开尔文力显微镜（KFM），电流传感AFM（CS-AFM）和显微拉曼映射）来表征异质结构的形态，电子和光电特性。异质结构的形态与对宽带可见光的微观和宏观电子响应相关。讨论了有关光伏应用的数据。

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