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Collective dimer stress induced dichroism in II-VI semiconductors

机译:II-VI族半导体中集体二聚体应力诱导的二色性

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摘要

The physical origin of sharp resonances in reflectance difference spectroscopy data at the critical points of the dielectric function of bulk semiconductors is shown to arise from an uniaxial in-plane stress component. These resonances are induced at the critical points via lifting the degeneracy of the optical transitions at the L and Gamma points due to the resulting anisotropic strain. [References: 15]
机译:在大块半导体的介电功能的临界点处的反射率差光谱数据中的尖锐共振的物理起因显示为源自单轴面内应力分量。由于产生的各向异性应变,通过解除L点和Gamma点处光学跃迁的简并性,在临界点处引发了这些共振。 [参考:15]

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