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首页> 外文期刊>Physica, B. Condensed Matter >Reflection mode X-ray absorption spectroscopy: new applications in surface science research
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Reflection mode X-ray absorption spectroscopy: new applications in surface science research

机译：反射模式X射线吸收光谱：表面科学研究的新应用

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Reflection mode grazing incidence X-ray absorption spectroscopy (GIXAFS) was applied for the in situ investigation of solid/liquid interfaces. Results obtained during the active dissolution of metals are presented. In the case of silver in neutral or weakly acidic Na2SO4 solutions (pH 6.5), the formation of an Ag-O species at the surface of the Ag-electrode can be proven, i.e. the active dissolution proceeds via a non-protecting surface layer, the thickness of which was estimated to be about 5 nm. The atomic short-range order of this surface layer is different from polycrystalline silver oxides (Ag2O and AgO) and relates to a more disordered or amorphous Ag1+ oxide. (C) 2004 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：反射模式掠入射X射线吸收光谱法（GIXAFS）用于固/液界面的原位研究。介绍了在金属主动溶解过程中获得的结果。在中性或弱酸性Na2SO4溶液（pH 6.5）中使用银的情况下，可以证明在Ag电极表面形成了Ag-O物种，即活性溶解是通过非保护性表面层进行的，其厚度估计为约5nm。该表面层的原子短程有序不同于多晶的银氧化物（Ag2O和AgO），并且与无序或无定形的Ag1 +氧化物有关。 （C）2004 Elsevier B.V.保留所有权利。

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