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【24h】

Strain relaxation in thin films of Cu grown on Ni(001)

机译:Ni(001)上生长的Cu薄膜中的应变松弛

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摘要

Surface X-ray diffraction and kinematical model calculations are used to determine the strain relaxation of embedded wedges with internal (111) facets formed in thin Cu films when grown on Ni(001). We show the wedges to be inhomogenously strained with a large lateral relaxation near the Cu/Ni interface which decays rapidly away from the interface. (C) 1998 Elsevier Science B.V. All rights reserved. [References: 6]
机译:当在Ni(001)上生长时,表面X射线衍射和运动学模型计算可用于确定嵌入楔形物的应变松弛,该楔形物具有形成在Cu薄膜中的内部(111)面。我们显示,楔块在Cu / Ni界面附近具有大的横向弛豫,从而不均匀地应变,Cu / Ni界面远离界面迅速衰减。 (C)1998 Elsevier Science B.V.保留所有权利。 [参考:6]

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