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Investigation of the magnetism in thin single Ho(00.1) films via neutron reflectivity measurements

机译：通过中子反射率测量研究单薄Ho（00.1）薄膜中的磁性

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Resonant magnetic X-ray scattering studies have been carried out recently to explore the phase transition and Neel temperature for the helical spin structure in single Ho films as a function of film thickness. However these experiments have a natural limit of about 200 Angstrom, since with decreasing film thickness leaking charge scattering and finite thickness oscillations bury the magnetic satellite peaks. This limit hinders the investigation of scaling effects. Using neutron scattering we could now show that the intensity of the (00.2 - tau) and (00.0 + tau) magnetic satellite reflections are surprisingly large, allowing to explore the phase transition in epitaxial Ho(00.1) films down to below 50 Angstrom. (C) 2000 Elsevier Science B.V. All rights reserved. [References: 17]
机译：最近已经进行了共振X射线磁散射研究，以探索单Ho膜中螺旋自旋结构的相变和Neel温度与膜厚的关系。但是，这些实验的自然极限约为200埃，因为随着膜厚度的减小，电荷的散射和有限的厚度振动会掩盖电磁卫星的峰值。此限制阻碍了缩放效果的研究。使用中子散射，我们现在可以证明（00.2-tau）和（00.0 + tau）磁卫星反射的强度出奇地大，可以探索外延Ho（00.1）薄膜中低至50埃以下的相变。 （C）2000 Elsevier Science B.V.保留所有权利。 [参考：17]

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