...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Physica, B. Condensed Matter >First AFM observation of thin cermet films close to the percolation threshold using a conducting tip
【24h】

First AFM observation of thin cermet films close to the percolation threshold using a conducting tip

机译：首次AFM使用导电尖端观察接近渗滤阈值的金属陶瓷薄膜

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Optical, electrical and magnetic properties of cermet thin films (metallic nanograins embedded in an insulating matrix) are strongly dependent on their morphology. The size, share and distribution of metallic grains are the main parameters as well as roughness of the surface of the samples. Usual techniques such as transmission electron microscopy, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, while very useful to characterize some of them, are inefficient for others and have to be used in a complementary way. Until now, it was impassible to point out metallic nanograins from the matrix using a commercial setup. We have developed a new technique of local contact resistance measurements with a conducting tip AFM called "Resiscope". In this paper, we show the first electrical mapping obtained with our setup on gold-alumina and nickel-alumina cermet, with different filling factors, very close to percolation threshold and we briefly correlate these observations to magnetic properties. (C) 2000 Else Elsevier Science B.V. All rights reserved. [References: 2]
机译：金属陶瓷薄膜（嵌入绝缘基质中的金属纳米颗粒）的光学，电和磁性能在很大程度上取决于其形态。金属晶粒的尺寸，份额和分布是主要参数以及样品表面的粗糙度。常规技术，例如透射电子显微镜，扫描电子显微镜，原子力显微镜，虽然对某些特征进行表征非常有用，但对其他特征而言效率低下，必须以互补方式使用。到目前为止，使用商业设置从基质中指出金属纳米颗粒是不可能的。我们已经开发了一种新的局部接触电阻测量技术，该技术采用了一种称为“ Resiscope”的导电尖端AFM。在本文中，我们展示了我们的装置在金-氧化铝和镍-铝金属陶瓷上获得的第一个电图，具有不同的填充因子，非常接近渗流阈值，并且将这些观察值与磁性能简要相关。 （C）2000 Else Elsevier Science B.V.保留所有权利。 [参考：2]

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号