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【24h】

AFM-Metrologie für den gehobenen Forschungsbereich

机译:AFM计量学,用于高级研究

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摘要

Angebot: Rasterkraftmikroskop ?NX20" für pr?zise Topographie-Messungen mit hoher Wiederholgenauigkeit ohne Verlust der Aufl?sung und AFM-Aufnahmen ohne st?rende Einflusse wie Piezo-Hysterese oder Hintergrundkrummung. Das AFM bietet ferner eine h?here Lebensdauer der Messspitzen.
机译:提供:原子力显微镜“ NX20”,用于精确的形貌测量,具有高重复性,而不会损失分辨率和AFM记录,而不会干扰压电滞后或背景曲率等影响,AFM还可以延长测量头的使用寿命。

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