机译:新的X射线映射:将硅漂移探测器(SDD)应用于X射线光谱和频谱成像,输出计数超过100kHz
机译:使用扫描电子显微镜上的硅漂移检测器以高于100 kHz的输出计数速率进行X射线光谱和光谱图像映射
机译:新的X射线映射:使用硅漂移检测器以100 kHz以上的输出计数率对X射线光谱成像
机译:能量色散X射线光谱术的革命:使用扫描电子显微镜上的硅漂移检测器以1 MHz以上的输出计数速率进行光谱成像
机译:光谱级X射线成像高达100kHz帧速率,具有受控漂移探测器
机译:X射线光电导体及其在直接转换平板数字X射线图像检测器中的用途
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析