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杨进蔚; 张炜;
无;
硅漂移探测器; 软X射线能谱; 电子温度; 磁约束聚变装置;
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散光谱(SEM / SDD-EDS)和NIST DTSA-II对硼化物,碳化物,氮化物,氧化物和氟化物的电子激发X射线定量分析
机译:基于同步的X射线光谱的大型立体角和高检测效率多元素硅漂移探测器(SDD)
机译:峰值电流为0.9-1.6 MA时作为X射线源的单线和X夹层的研究
机译:新的X射线映射:将硅漂移探测器(SDD)应用于X射线光谱和频谱成像,输出计数超过100kHz
机译:20元件HgI2能量色散X射线阵列探测器系统
机译:X射线能谱测量方法,X射线能谱测量设备和X射线CT设备
机译:X射线能谱测量方法,X射线能谱测量装置和X射线CT装置
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