首页> 中文期刊> 《核工业西南物理研究院年报》 >1.6 硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断

1.6 硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断

         

摘要

磁约束聚变装置中,利用高温等离子体自身辐射的X射线作为诊断工具,为测量等离子体重要的物理参数和热核聚变研究提供了便利的诊断手段,特别是热核聚变的研究方向已集中到等离子体中心区域并向堆芯模拟方向发展的今天,X射线更适合于探测大中型托卡马克芯部区域的物理参数和聚变衍生的物理过程而

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