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一种芯片老炼试验数据处理方法

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本发明公开了一种芯片老炼试验数据处理方法。步骤一，芯片老炼试验中测量采集功率/电流数据而获得所有数据集合，针对每一个数据集合，计算出数据集合中每个数据点的局部离群因子，并根据局部离群因子筛除数据点；步骤二，对步骤一获得的筛除数据点后的每个数据集合，采用以下方式处理获得最后的精确值。本发明可以解决因为个别异常值导致的数据误差，获得更精确的结果，计算简单，容易实现；可用于老炼测试以及高低温测试中的数据处理。

著录项

公开/公告号CN109814022A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-05-28

原文格式PDF
申请/专利权人浙江大学;
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申请/专利号CN201910001677.X
发明设计人王潮儿;虞小鹏;
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申请日2019-01-02
分类号G01R31/28(20060101);G01R31/26(20140101);
代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;
代理人林超
地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
入库时间 2024-02-19 10:10:54

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-06-21

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20190102

实质审查的生效
2019-05-28

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