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光检测装置、校正系数计算装置及校正系数计算方法

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提供光检测装置、校正系数计算装置及校正系数计算方法，在使用采用了通用运算放大器的放大电路的情况下也是动态范围较广且高精度。分光测量装置(1)具备：受光元件(61)，接收光并输出受光信号；可变放大电路(63)，放大输入的受光信号；以及暗电压校正部(74)，基于在光未入射至受光元件(61)的环境下增益为预定值以上且为两个以上的各个值时的可变放大电路(63)的输出值来计算暗电压值相对于增益的变化率即校正系数。

著录项

公开/公告号CN109990894A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-07-09

原文格式PDF
申请/专利权人精工爱普生株式会社;
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申请/专利号CN201811602519.1
发明设计人久利龙平;
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申请日2018-12-26
分类号G01J1/42(20060101);G01J1/44(20060101);
代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;
代理人玉昌峰;吴孟秋
地址日本东京
入库时间 2024-02-19 11:27:57

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法律状态
2019-07-09

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