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老化测试插座用表面处理金属材料、使用了其的老化测试插座用连接器及老化测试插座

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本发明提供一种在使用于老化测试插座用的触头时，能良好地抑制该插座的触头与插入的其他金属材料的接触电阻的老化测试插座用表面处理金属材料。该老化测试插座用表面处理金属材料具备：基材；形成在基材上的由从由Ni、Cr、Mn、Fe、Co及Cu组成的组即A结构元素组中选择的一种或两种以上构成的下层；形成在下层上的由从A结构元素组中选择的一种或两种以上和从由Sn及In组成的组即B结构元素组中选择的一种或两种构成的中层；以及形成在中层上的由从B结构元素组中选择的一种或两种与从由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir组成的组即C结构元素组中选择的一种或两种以上的合金构成的上层，下层的厚度为0.05μm以上且小于5.00μm，中层的厚度为0.01μm以上且小于0.40μm，上层的厚度为0.02μm以上且小于1.00μm。

著录项

公开/公告号CN110103584A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-08-09

原文格式PDF
申请/专利权人 JX金属株式会社;
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申请/专利号CN201910082902.7
发明设计人远藤智;
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申请日2019-01-24
分类号B41F23/04(20060101);B32B15/01(20060101);B32B15/18(20060101);B32B15/20(20060101);G01R31/00(20060101);G01R1/04(20060101);
代理机构11511 北京得信知识产权代理有限公司;
代理人袁伟东
地址日本东京都千代田区大手街一条1-2号
入库时间 2024-02-19 11:37:04

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-09-03

实质审查的生效 IPC(主分类):B41F23/04 申请日:20190124

实质审查的生效
2019-08-09

公开

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