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一种用于测量热障涂层系统表面裂纹扩展速率的原位装置

摘要

本发明公开了一种用于测量热障涂层系统表面陶瓷层裂纹扩展速率的原位装置,该装置包括计算机(101)、基体(102)、粘结层(103)、氧化铝薄膜(104)、陶瓷层(105)、加热板(106)、固定板(107)、电阻应变片(108)和采集卡(109);通过该装置保证热障涂层系统表面陶瓷层裂纹扩展速率测量实验过程中可以改变热障涂层系统温度,实时监测裂纹扩展过程中的扩展速率,该装置结构简单,操作方便。

著录项

  • 公开/公告号CN110044948A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201910357103.6

  • 申请日2019-04-29

  • 分类号

  • 代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人沈波

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2024-02-19 11:50:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/00 申请日:20190429

    实质审查的生效

  • 2019-07-23

    公开

    公开

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