首页> 中国专利> 波形分析装置、及波形分析方法

波形分析装置、及波形分析方法

页面导航

摘要
著录项
法律信息
相似文献

摘要

提供一种波形分析方法、波形分析装置，其中，可通过指定构成机械装置的部件中的已劣化的部件，在今后防止机械装置的故障造成的停止、动作中的破损事故，并且可进行良好效率的维修作业。波形分析装置(30)包括：信号分析部(31)，其对从检测机械装置的物理的现象的传感器(28)而发送的信号进行高速傅里叶变换处理；脉冲抽取部(32)，其抽取从通过信号分析部(31)而形成的频谱数据中抽取脉冲成分；显示部(35)，其显示包括通过脉冲抽取部(32)而抽取的脉冲成分的波形数据；数据编辑部(33)，其根据通过显示部(35)而显示的包括脉冲成分的波形的数据，编辑通过作业人员经由输入部(36)而选择的范围的波形数据，形成表示频率和时间与脉冲成分的强度的曲线图，将其显示于显示部(35)中。

著录项

公开/公告号CN110073482A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-07-30

原文格式PDF
申请/专利权人日商乐华股份有限公司;
展开▼

申请/专利号CN201780076418.2
发明设计人玉造大悟;
展开▼

申请日2017-12-04
分类号
代理机构北京三幸商标专利事务所(普通合伙);
代理人刘卓然
地址日本广岛县
入库时间 2024-02-19 12:18:13

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-11-15

实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/677 申请日:20171204

实质审查的生效
2019-07-30

公开

公开

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 波形分析装置、及波形分析方法 [P] . 中国专利： CN110073482A . 2019-07-30
2. 近场微震信号波形的分析方法、装置、设备及存储介质 [P] . 中国专利： CN113050158A . 2021-06-29
3. WAVEFORM ANALYSIS DEVICE, WAVEFORM MEASURING DEVICE, WAVEFORM ANALYSIS PROGRAM, INTERFEROMETER DEVICE, PATTERN PROJECTION SHAPE MEASURING DEVICE, AND WAVEFORM ANALYSIS METHOD [P] . 日本专利： JP2011059007A . 2011-03-24

机译：波形分析装置，波形测量装置，波形分析程序，干涉仪，图案投影形状测量装置和波形分析方法
4. Waveform analysis apparatus, computer-executable waveform analysis program, interferometer apparatus, pattern projection shape measurement apparatus, and waveform analysis method [P] . 日本专利： JP5359566B2 . 2013-12-04

机译：波形分析装置，计算机可执行的波形分析程序，干涉仪装置，图案投影形状测量装置以及波形分析方法
5. Waveform analysis apparatus, computer-executable waveform analysis program, interferometer apparatus, pattern projection shape measurement apparatus, and waveform analysis method [P] . 日本专利： JP5359565B2 . 2013-12-04

机译：波形分析装置，计算机可执行的波形分析程序，干涉仪装置，图案投影形状测量装置以及波形分析方法