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荧光X射线分析方法、荧光X射线分析程序以及荧光X射线分析装置

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摘要

在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

1. 荧光X射线分析方法、荧光X射线分析程序以及荧光X射线分析装置 [P] . 中国专利： CN110312928A . 2019-10-08
2. 荧光X射线分析方法以及荧光X射线分析装置 [P] . 中国专利： CN110312928B . 2021.03.26
3. FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD, FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS PROGRAM, AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS DEVICE [P] . 世界知识产权组织专利： WO2018168939A1 . 2018-09-20

机译：荧光X射线分析方法，荧光X射线分析程序以及荧光X射线分析装置
4. X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer [P] . 日本专利： JP6614740B2 . 2019-12-04

机译： X射线荧光分析方法，X射线荧光分析程序以及荧光X射线分析仪
5. X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer [P] . 日本专利： JPWO2018168939A1 . 2019-11-14

机译： X射线荧光分析方法，X射线荧光分析程序以及荧光X射线分析仪