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一种基于光散射场的颗粒物粒径分布测量方法及系统

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本发明公开了一种基于光散射场的颗粒物粒径分布测量方法及系统，方法包括：将入射光射向待测环境中待测区域；采用曲面反射镜在入射光入射方向一侧收集该区域中所有颗粒在观测角度范围内的散射光信号；采用光学镜头对散射光信号整形处理，后采用光电转换器采集观测角度范围内每个角度对应的独立散射光信号；基于各角度散射光信号，通过反向推演计算得到颗粒物粒径分布。本发明仅采用曲面反射镜、光学镜头、光电转换器，结构简单，成本低，可实现观测角度范围内各角度散射光信号的独立采集，获得大范围高角分辨率的散射角谱，为粒径分布准确求解提供较多通道的散射光信号，在实现准确颗粒物粒径分布测量功能的同时，结构简单，成本较低，实用性强。

著录项

公开/公告号CN110553955A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-12-10

原文格式PDF
申请/专利权人华中科技大学;
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申请/专利号CN201910815933.9
发明设计人王殊;邓田;陈昂;
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申请日2019-08-30
分类号G01N15/02(20060101);
代理机构42201 华中科技大学专利中心;
代理人曹葆青;李智
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
入库时间 2024-02-19 15:39:38

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-01-03

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20190830

实质审查的生效
2019-12-10

公开

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