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基于结构相似性度量的多晶硅电池片裂纹缺陷检测方法

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本发明公开基于结构相似性度量的多晶硅电池片裂纹缺陷检测方法，该方法包括如下步骤：步骤1，结构相似性度量函数设计；步骤2，预处理待检测图像；步骤3，裂纹缺陷提取和定位。与现有技术相比，本发明的检测方法能够增强裂纹缺陷，抑制晶粒，从而提高裂纹缺陷和EL图像背景的对比度，获取一致均匀的背景，实现非均匀纹理背景下裂纹缺陷检测。

著录项

公开/公告号CN110619146A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-12-27

原文格式PDF
申请/专利权人河北工业大学;
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申请/专利号CN201910737874.8
发明设计人刘卫朋;韩达;赵慧芳;黄迪;陈海永;
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申请日2019-08-12
分类号
代理机构天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人张国荣
地址 300130 天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330#
入库时间 2024-02-19 15:48:45

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-01-21

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20190812

实质审查的生效
2019-12-27

公开

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