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一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法

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本发明公开了一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法，具体为：根据预防度和检测度分别打分，得到故障模式严重度和发生度的量化指标，即得到两个风险优先数RPN1和RPN2，其中，RPN1＝O×S×P，RPN2＝O×S×D，所述P为预防度，O为故障模式发生概率等级，S为严酷度等级，D为检测难度等级；根据两个风险优先数的高低比较，获得故障模式排序和选择方式。本发明的方法在计算风险优先数时不仅考虑故障模式的检测难易程度，而且考虑设计改进对故障模式的预防程度，从而获得的两个风险优先数，从预防和检测的角度对故障模式进行排序，避免了由于探测措施好而忽略了设计改进的情况，为产品的设计改进提供更为全面的依据。

著录项

公开/公告号CN103186708A

专利类型发明专利
公开/公告日2013-07-03

原文格式PDF
申请/专利权人电子科技大学;
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申请/专利号CN201110457815.9
发明设计人刘宇;汪忠来;黄洪钟;宋巍;孙锐;凌丹;肖宁聪;
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申请日2011-12-31
分类号G06F19/00(20060101);
代理机构51203 电子科技大学专利中心;
代理人周永宏
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
入库时间 2024-02-19 18:48:14

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2015-08-19

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F19/00 申请公布日:20130703 申请日:20111231

发明专利申请公布后的视为撤回
2013-07-03

公开

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