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基于ChipScope的EDA调试过程辅助分析装置

摘要

一种基于ChipScope的EDA调试过程辅助分析装置,涉及一种EDA调试辅助分析工具,包括FPGA测试芯片及外围辅助电路,所述的FPGA测试芯片用于加载EDA调试过程中的测试程序;所述的外围辅助电路包括LED指示灯、测试引脚、存储芯片、配置芯片、拨码开关、电源以及JTAG接口,各外围辅助电路分别与FPGA测试芯片相连接。本发明能够直观观测到EDA调试过程中各测试引脚及测试点的信号真实的变化情况,能够对所测试的各信号点及引脚真实的物理信号进行测量,还能够为EDA调试提供对比性的测试结果验证,大幅度提高了EDA试验测试过程的精度及效率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-02

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20130612 申请日:20130312

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20130312

    实质审查的生效

  • 2013-06-12

    公开

    公开

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