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粒径分布测量装置及粒径分布测量方法

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本发明提供粒径分布测量装置及粒径分布测量方法，能对应试样容易地设定计数器的选通门打开的时间。所述装置包括：光射出部，向在分散介质中运动的粒子群照射光；光接收部，根据从所述粒子群发出的散射光的光子数输出脉冲信号；并列设置的多个多位计数器，具有选通门，在该选通门打开时对脉冲信号的脉冲数进行计数；相关器，从所述脉冲数的时序数据生成自相关数据；计算部，根据该自相关数据计算粒子群的粒径分布，选通时间更改部，对选通时间进行一次或多次更改；选通时间判定部，对利用选通时间更改部更改后的每个选通时间，将选通时间每次更改后所述自相关数据的最大值和最小值的差值相互进行比较，将最大差值所对应的选通时间判定为推荐值。

著录项

公开/公告号CN103257096A

专利类型发明专利
公开/公告日2013-08-21

原文格式PDF
申请/专利权人株式会社堀场制作所;
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申请/专利号CN201310045898.X
发明设计人栩野成视;澤弘义;
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申请日2013-02-05
分类号G01N15/02;
代理机构北京信慧永光知识产权代理有限责任公司;
代理人李雪春
地址日本京都府
入库时间 2024-02-19 19:37:31

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2015-10-07

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N15/02 申请公布日:20130821 申请日:20130205

发明专利申请公布后的视为撤回
2013-08-21

公开

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