• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中国专利> 测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法

测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 法律信息
  • 相似文献

摘要

本发明涉及一种测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法，该测试系统先对电子装置的结构外形进行模拟分析，得出硬盘的振动能量频谱图，若该输出的振动能量频谱图与标准的频谱图相似，才会做出电子装置的样品来，此刻做出的电子装置样品已经可能满足客户的要求或者仅仅修要对样品进行较小的修改就能满足客户的要求，而无需重复多次做样品，从而大大节省了设计人员的时间和降低了电子装置的开发费用。

著录项

  • 公开/公告号CN103377126A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司;

    申请/专利号CN201210128295.1

  • 发明设计人 林圣涵;

    申请日2012-04-27

  • 分类号G06F11/36;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

  • 入库时间 2024-02-19 20:43:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-16

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F11/36 申请公布日:20131030 申请日:20120427

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-10-30

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号