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荧光光谱测量玻尔兹曼常数的方法

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一种荧光光谱测量玻尔兹曼常数的方法，方法步骤为：步骤一、实现该方法的装置包括：激发光源、具有热耦合能级的荧光材料、温控元件、发热元件、色散元件、探测模块、数据处理模块；步骤二、调节激发光源的激发光波长至荧光材料的热耦合能级均参与辐射跃迁，测量和记录特定温度下荧光材料的发射光谱，并计算热耦合能级参与跃迁的两条谱线的荧光发射强度比值R；步骤三、即可拟合计算出R~T关系中包含在系数里的玻尔兹曼常数。本发明的技术效果是：本测量方法使用的实验组件较常见且维护成本低，操作简便，重复性好，不易老化，可以用于工业工程的温度校准、近代物理教学实验等方面。

著录项

公开/公告号CN102103085B

专利类型发明专利
公开/公告日2012-10-03

原文格式PDF
申请/专利权人南昌航空大学;
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申请/专利号CN201110032876.0
发明设计人张巍巍;岳俊昕;何兴道;高益庆;肖慧荣;
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申请日2011-01-30
分类号
代理机构南昌洪达专利事务所;
代理人刘凌峰
地址 330000 江西省南昌市红谷滩新区丰和南大道696号
入库时间 2022-08-23 09:11:18

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2012-10-03

授权

授权
2011-08-03

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20110130

实质审查的生效
2011-06-22

公开

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