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一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法

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一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法，它涉及一种光学装置及光学测量方法，具体涉及一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法。本发明为了解决目前还没有一种能够直观的观察、分析、储存接触区域真实接触面积的光学观测装置及光学测量方法的问题。本发明所述方法的具体步骤为将接触样本安装在所述夹具组件上；通过USB数据线将工业相机与计算机连接；缓慢施加压力，直至接触样本轻微接触；调整二维手动滑台使接触区域位于图像中心位置；接触力值保持20秒后保存图像，同时记录接触力值和同业相机显微镜头的放大倍数；利用图像处理程序，计算接触区域的真实接触面积。本发明用于电接触领域。

著录项

公开/公告号CN104061881A

专利类型发明专利
公开/公告日2014-09-24

原文格式PDF
申请/专利权人哈尔滨工业大学;
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申请/专利号CN201410330892.1
发明设计人任万滨;常成;韦建民;刘程焕;陈宇;
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申请日2014-07-11
分类号G01B11/28(20060101);
代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;
代理人牟永林
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
入库时间 2023-12-17 01:14:57

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-07-27

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B11/28 授权公告日:20170118 终止日期:20170711 申请日:20140711

专利权的终止
2017-01-18

授权

授权
2014-10-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/28 申请日:20140711

实质审查的生效
2014-09-24

公开

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1. 一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法 [P] . 中国专利： CN104061881B . 2017.01.18
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