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利用用于卷材制造或处理系统的自适应探测信号设计技术的闭环对准识别

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一种方法包括设计（308、400、500）探测信号，所述探测信号用于利用正在由卷材制造或处理系统（100）所制造或处理的材料的卷材（108）的测量结果来测试所述系统中的致动器（202）的对准。该方法还包括在对准测试期间提供（310）探测信号以利用卷材的测量结果来识别所述致动器的对准。设计所述探测信号包括基于所述卷材制造或处理系统的空间和动态特性两者来设计所述探测信号。

著录项

公开/公告号CN104350202A

专利类型发明专利
公开/公告日2015-02-11

原文格式PDF
申请/专利权人霍尼韦尔阿斯卡公司;
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申请/专利号CN201380028046.8
发明设计人褚丹雷;C.格奧尔基;
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申请日2013-03-13
分类号D21G9/00;B65H23/00;B65H43/00;D21F2/00;
代理机构中国专利代理(香港)有限公司;
代理人周学斌
地址加拿大安大略省
入库时间 2023-12-17 04:48:46

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-08-01

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):B65H43/00 申请公布日:20150211 申请日:20130313

发明专利申请公布后的视为撤回
2015-04-22

实质审查的生效 IPC(主分类):D21G9/00 申请日:20130313

实质审查的生效
2015-02-11

公开

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1. 利用用于卷材制造或处理系统的自适应探测信号设计技术的闭环对准识别 [P] . 中国专利： CN104350202A . 2015-02-11
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5. CLOSED-LOOP ALIGNMENT IDENTIFICATION WITH ADAPTIVE PROBING SIGNAL DESIGN TECHNIQUE FOR WEB MANUFACTURING PROCESSING SYSTEMS [P] . 世界知识产权组织专利： WO2013142960A1 . 2013-10-03

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