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用于在超高分辨率面板中侦测缺陷的方法

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一种用于检验电路的系统，这些电路包含彼此相互间隔开的多个导体，该系统包含：一电压驱动器，运行以对该多个导体中的数个导体施加不同电压，这些导体彼此在空间上邻近；一传感器，运行以感测由该系统相对于这些电路所界定的一测试区的至少一个特性，该传感器缺乏足以在这些导体其中的单独者的位置之间进行区分的空间分辨率；以及一缺陷指示器，因应于该传感器的至少一个输出而判断这些导体中是否存在一缺陷。

著录项

公开/公告号CN110770592A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-02-07

原文格式PDF
申请/专利权人烽腾科技有限公司;
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申请/专利号CN201880029780.9
发明设计人劳尔·阿尔伯特·马汀;理查德·诺里欧·布莱思;
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申请日2018-06-18
分类号G01R31/304(20060101);G09G3/00(20060101);
代理机构11228 北京汇泽知识产权代理有限公司;
代理人关宇辰
地址美国加州
入库时间 2023-12-17 07:17:23

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-07-21

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/304 申请日:20180618

实质审查的生效
2020-02-07

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