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用于时间交错的ADC的交错误差的背景或盲校准中的基于直方图的数据鉴定

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本公开涉及用于时间交错的ADC的交错误差的背景或盲校准中的基于直方图的数据鉴定。ADC可以包括多个时间交错的ADC，以提高ADC的整体采样率。这样的ADC可能具有交错误差，因为ADC中的时间交错的ADC并不总是完全匹配。校准这些不匹配的一种方法是在背景中或更广泛地观察时间交错的ADC的数字输出信号，而不知道ADC的输入信号(通常称为“盲”校准)。由于这些校准的性质，当输入信号具有某些有问题的输入条件(例如某个相干输入频率)时，校准的性能将显着降低。为了解决这个问题，用于校准交错误差的数据可以通过鉴定过程来评估是否基于数据更新误差估计。

著录项

公开/公告号CN110943741A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-03-31

原文格式PDF
申请/专利权人美国亚德诺半导体公司;
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申请/专利号CN201910889687.1
发明设计人 E·奥特;
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申请日2019-09-20
分类号
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人张丹
地址美国马萨诸塞州
入库时间 2023-12-17 07:25:54

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-04-24

实质审查的生效 IPC(主分类):H03M1/10 申请日:20190920

实质审查的生效
2020-03-31

公开

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1. 用于时间交错的ADC的交错误差的背景或盲校准中的基于直方图的数据鉴定 [P] . 中国专利： CN110943741A . 2020-03-31
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