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一种大数量低活度钴源对辐照剂量率的研究方法

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摘要

本发明涉及一种大数量低活度钴源对辐照剂量率的研究方法，包括以下步骤：步骤一：参照对照组排源方案在钴源模块中布源；步骤二：用步骤一中布源后的钴源进行辐照试验，为对照组；步骤三：参照试验组排源方案在钴源模块中布源；步骤四：用步骤三中布源后的钴源进行辐照试验，为试验组；步骤五：将对照组和试验组的剂量计取出测定剂量率，进行比较。本发明方法由蒙特卡罗程序建立数学模型形成排源方案，根据排源方案对10000ci和1000ci的钴源棒进行布源，然后分别进行辐照试验，对辐照剂量进行对比，以确定大数量低活度钴源对辐照剂量率的影响，步骤简便，操作性强，试验装置在研究大数量低活度钴源对辐照剂量率影响的实验中使用效果好，适用于推广使用。

著录项

  • 公开/公告号CN111007088A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津金鹏源辐照技术有限公司;

    申请/专利号CN201911378829.4

  • 发明设计人 潘俊;代云鹏;张咏春;

    申请日2019-12-27

  • 分类号

  • 代理机构天津盛理知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘丹舟

  • 地址 300308 天津市滨海新区天津自贸试验区(空港经济区)中环南路11号

  • 入库时间 2023-12-17 07:30:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/00 申请日:20191227

    实质审查的生效

  • 2020-04-14

    公开

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