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一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法

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摘要

本发明公开了一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法。本发明包括单铼带涂样、质谱测量和数据校正三个步骤，其采用正热电离质谱测量法，基于Ce

1. 一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法 [P] . 中国专利： CN111089925A . 2020-05-01
2. 一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法 [P] . 中国专利： CN110596231A . 2019-12-20
3. IONIZED MASS SPECTROMETER, ANALYSIS METHOD, AND MEASURING SYSTEM USING IONIZED MASS SPECTROMETER [P] . 日本专利： JP2001093461A . 2001-04-06

机译：电离质谱仪，分析方法和使用电离质谱仪的测量系统
4. A method of achieving independent regulation of stabilised intensity and kinetic energy of a thermo-electron ionizing beam in a mass spectrometer. [P] . PL189106B1 . 2005-06-30

机译：一种在质谱仪中实现热电子电离束稳定强度和动能独立调节的方法。
5. Measuring method, atmospheric pressure ionization mass spectrometer and destructive inspection equipment [P] . 日本专利： JP5985266B2 . 2016-09-06

机译：测量方法，大气压电离质谱仪和破坏性检查设备