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基于存储器完整性检查控制器实现数据完整性检查的系统和方法

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基于存储器完整性检查控制器实现数据完整性检查的系统和方法，包括：步骤M1：主存储器数据的完整性检查以页为单位，页大小固定为预设值；步骤M2：每个存储器页都有一个属性，整个存储器的页属性存储在存储器中；步骤M3：根据页属性生成相应的校验码，存储在存储器的页属性校验码区域；步骤M4：数据载入存储器时生成的校验码存储在存储器中的校验码存储区域；步骤M5：根据存储器数据的地址获取存储器页属性，重新生成校验码，并与缓存在存储器校验码区域中相应页的校验码比较，执行存储器数据完整性检查。本发明通过专用硬件逻辑实现存储器数据完整性的检查，几乎不增加中央处理器的负载。

著录项

公开/公告号CN111061591A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-04-24

原文格式PDF
申请/专利权人华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所);
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申请/专利号CN201911121342.8
发明设计人马鹏;梅冰清;刘佩;
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申请日2019-11-15
分类号
代理机构上海段和段律师事务所;
代理人李佳俊
地址 201800 上海市嘉定区嘉罗路1485号
入库时间 2023-12-17 08:08:48

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-05-19

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/10 申请日:20191115

实质审查的生效
2020-04-24

公开

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