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公开/公告号CN111220858A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-02
原文格式PDF
申请/专利权人 北京华航无线电测量研究所;
申请/专利号CN201811431272.1
发明设计人 孙悦;马菁汀;刘尊龙;李高亮;唐倩;
申请日2018-11-26
分类号
代理机构
代理人
地址 100013 北京市东城区和平里南街3号
入库时间 2023-12-17 09:04:09
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-26
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/26 申请日:20181126
实质审查的生效
2020-06-02
公开
机译: 光电探测器的光谱特性测量仪器,光谱特性测量方法,内部量子效率测量仪器和内部量子效率测量方法
机译: 噪声功率测量装置及噪声功率测量方法。
机译: 噪声功率测量装置及噪声功率测量方法
机译:纳米结构NbN单光子探测器在从可见光到红外的波长范围内的量子效率和噪声等效功率
机译:测量两个平板探测器的调制传递函数,归一化噪声功率谱和探测量子效率:荧光镜和锥束计算机断层扫描平板探测器
机译:Si-MOS2具有高响应度和低噪声等效功率的光电探测器的垂直异质结
机译:NbN超导单光子探测器在红外范围内的光谱灵敏度,量子效率和噪声等效功率
机译:具有低噪声的雪崩光电二极管,高速和具有高输出功率的PIN光电探测器。
机译:使用平板X射线探测器进行噪声方差分析:一种用于乳房CT应用的附加噪声评估方法
机译:混合动力系统光电噪声等效功率的等效性 NbTiN-al微波动能电感探测器
机译:非晶GeTe / siOx双色探测器的噪声等效功率。