首页> 中国专利> 使用集成光子器件的空分复用光学相干层析成像技术

使用集成光子器件的空分复用光学相干层析成像技术

摘要

本发明公开了一种公开了适合空分复用光学相干断层扫描的集成光子芯片、相关系统和方法。在一个实施例中,所述光子芯片包含:一个衬底;一个光输入端口,从外部光源接收入射采样光;多个光输出端口,配置为从芯片向样品发射多条采样光束,以便采集该样品的扫描图像;多个在衬底里的互联的和分支的波导通道。分光器区的波导通道将采样光束分裂成输出端口的多条采样光束。在时间延迟区域,波导通道与每个输出端口相连的终端部分有着不同的预定长度,以便在采样光束之间产生光学时间延迟。在一些实施例中,所述芯片进一步包含了一个干涉仪区,以便产生干涉图案。

著录项

  • 公开/公告号CN111212592A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 周超;

    申请/专利号CN201880046277.4

  • 发明设计人 周超;

    申请日2018-05-14

  • 分类号

  • 代理机构郑州立格知识产权代理有限公司;

  • 代理人崔卫琴

  • 地址 450000 河南省郑州市金水区郑花路29号院4号楼20号

  • 入库时间 2023-12-17 09:08:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B3/00 申请日:20180514

    实质审查的生效

  • 2020-05-29

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号