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用于相衬X射线成像的高分辨率X射线探测的方法和系统

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摘要

一种相衬X射线成像系统，用于对象成像，包括：X射线源；和X射线探测器，其具有25微米或更小的像素间距；其中，在X射线源与对象之间的距离小于或等于10cm。

1. 用于相衬X射线成像的高分辨率X射线探测的方法和系统 [P] . 中国专利： CN111465840A . 2020-07-28
2. 用于相衬X射线成像的系统和方法 [P] . 中国专利： CN106659444A . 2017-05-10
3. X-ray detector for phase contrast and / or dark field imaging, interferometer having the X-ray detector, X-ray imaging system, method for performing phase contrast X-ray imaging and / or dark field X-ray imaging, and computer program , Computer readable media [P] . 日本专利： JP6581713B2 . 2019-09-25

机译：用于相衬和/或暗场成像的X射线探测器，具有X射线探测器的干涉仪，X射线成像系统，用于执行相衬X射线成像和/或暗场X射线成像的方法以及计算机程序，计算机可读媒体
4. METHOD AND SYSTEM FOR HIGH-RESOLUTION X-RAY DETECTION FOR PHASE CONTRAST X-RAY IMAGING [P] . 欧洲知识产权局专利： EP3682229A1 . 2020-07-22

机译：用于相衬X射线成像的高分辨率X射线检测的方法和系统
5. METHOD AND SYSTEM FOR HIGH-RESOLUTION X-RAY DETECTION FOR PHASE CONTRAST X-RAY IMAGING [P] . 美国专利： US2019113466A1 . 2019-04-18

机译：用于相衬X射线成像的高分辨率X射线检测的方法和系统