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利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法

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本发明涉及检测分析技术领域，具体指一种利用微区X射线衍射(Micro‑XRD)表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法。该方法通过电解或酸溶的方式提取钢中的非金属夹杂物，对提取颗粒进行汇聚、提纯和制样，获得高质量的微区X射线衍射检测样品，通过微区X射线衍射分析，能够确定检测颗粒的晶体结构。本发明方法可以简单有效地确定钢中非金属夹杂物的晶体结构、晶格参数以及物相种类等信息，通过制备高质量的钢中非金属夹杂物粉末样品和设置合理的微区X射线衍射检测参数，来解决现有的样品制备困难、X射线衍射(XRD)检测结果不理想等技术问题。

著录项

公开/公告号CN111579570A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-25

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院金属研究所;
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申请/专利号CN201911199161.7
发明设计人刘洋;李殿中;王培;张潇;
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申请日2019-11-29
分类号G01N23/20008(20180101);G01N23/207(20060101);
代理机构21234 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人张志伟
地址 110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
入库时间 2023-12-17 11:41:09

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2020-08-25

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