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单模光纤中极低偏振模色散(PMD)的高分辨率测量方法和PMD测量仪的校准方法

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摘要

提出一种高分辨率测量光纤偏振模色散的方法,该方法包括的步骤有:提供带光源的偏振模色散测量仪;提供待测光纤;与待测光纤串接一人造体,此人造体有稳定的已知偏振模色散值;使光源射出的光通过人造体及待测光纤;利用已从偏振模色散零值位移的偏振模色散测量仪,测量位移的偏振模色散值;从测得已位移的偏振模色散值,确定光纤的偏振模色散。

著录项

公开/公告号CN1196793A

专利类型发明专利
公开/公告日1998-10-21

原文格式PDF
申请/专利权人阿尔卡特尔电信电缆公司;
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申请/专利号CN96194853.1
发明设计人特里·L·沃特斯;
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申请日1996-05-17
分类号G01J4/04;
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人蒋世迅
地址美国北卡罗来纳
入库时间 2023-12-17 13:08:58

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2000-08-09

专利申请的视为撤回

专利申请的视为撤回
1998-11-04

实质审查请求的生效

实质审查请求的生效
1998-10-21

公开

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1. 单模光纤中极低偏振模色散(PMD)的高分辨率测量方法和PMD测量仪的校准方法 [P] . 中国专利： CN1196793A . 1998-10-21
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