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配有可从外部调整内部电源电位的内部电位产生电路的半导体集成电路装置

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摘要

一种半导体集成电路装置(1000)，它包括：多个内部电路(100.1～100.4)；变换外部电源电位的电平来供给对应于电平设定信号的电平的内部电源电位的内部电位产生电路(200.1～200.4)；在测试操作时，将多个电平设定信号依次提供给各个内部电位产生电路(200.1～200.4)的控制部(20)；以及比较各内部电位和基准电位，并保持表示比较结果的信息的测定电路(300.1～300.4)。在测试期间中，内部电位产生电路(200.1～200.4)内的比较电路进行对应于电平设定信号的电平和比较基准电位的比较。

著录项

  • 公开/公告号CN1430227A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱电机株式会社;

    申请/专利号CN02160244.1

  • 发明设计人 大石司;

    申请日2002-10-28

  • 分类号G11C11/34;G11C11/15;

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人傅康;叶恺东

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 14:52:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-18

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C11/34 授权公告日:20060607 终止日期:20181028 申请日:20021028

    专利权的终止

  • 2017-12-26

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G11C11/34 变更前: 变更后: 申请日:20021028

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2014-05-07

    专利权的转移 IPC(主分类):G11C11/34 变更前: 变更后: 登记生效日:20140416 申请日:20021028

    专利申请权、专利权的转移

  • 2006-06-07

    授权

    授权

  • 2003-10-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-07-16

    公开

    公开

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