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免疫反应测定方法以及免疫反应测定装置

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本发明提供一种简便并且测定精度高的免疫学测定方法以及该方法中使用的免疫学测定装置。在步骤St1构建含有被测定物质或特异结合物质的反应体系，开始光学的变化量的测定，在步骤St2将特异结合物质和被测定物质进行混合，作为离散的测定数据获得光学变化量随时间的变化。在步骤St3，选择在上述测定数据中包括光学变化量的增加率变为最大的时刻在内的时间区间。在步骤St4，将选择的时间区间作为周期函数的一个周期，通过对光学变化量的测定数据进行离散傅立叶变换处理，获得振幅光谱分布。在步骤St5，根据上述振幅光谱分布的形状，判定在上述反应中是否产生区带现象。

著录项

公开/公告号CN1576843A

专利类型发明专利
公开/公告日2005-02-09

原文格式PDF
申请/专利权人松下电器产业株式会社;
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申请/专利号CN200410063761.8
发明设计人龟井明仁;河村达朗;
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申请日2004-07-07
分类号G01N33/536;G01N21/49;G01N21/59;G01N33/543;G01N33/531;
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人汪惠民
地址日本大阪府
入库时间 2023-12-17 15:51:36

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2009-06-17

发明专利申请公布后的视为撤回

发明专利申请公布后的视为撤回
2006-08-30

实质审查的生效

实质审查的生效
2005-02-09

公开

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