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电路分析方法和电路分析设备

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根据本发明的电路分析设备包括：电容值提取单元，用于从包括半导体集成电路布局信息的设计信息中提取功能元件的电容值；电容值输出单元，用于根据功能元件的电容值，以有区别的方式在包括半导体集成电路布局信息的设计图上显示该半导体集成电路中的功能元件或者与该功能元件连接的功能元件连接布线，或者包括每一属性电容值运算单元，用于基于功能元件属性库和该功能元件的电容值对每一属性执行电容值的运算，所述功能元件属性库保存有半导体集成电路中功能元件的属性信息；每一属性电容值输出单元，用于输出由每一属性电容值运算单元计算出的每一属性的电容值。

著录项

公开/公告号CN1702660A

专利类型发明专利
公开/公告日2005-11-30

原文格式PDF
申请/专利权人松下电器产业株式会社;
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申请/专利号CN200510071971.6
发明设计人畑山薰;笹川幸宏;
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申请日2005-05-25
分类号G06F17/50;
代理机构11018 北京德琦知识产权代理有限公司;
代理人罗正云;宋志强
地址日本大阪
入库时间 2023-12-17 16:46:38

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2008-01-16

发明专利申请公布后的视为撤回

发明专利申请公布后的视为撤回
2005-11-30

公开

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