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解决中央处理单元的内建自我测试的失败问题的方法

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摘要

本发明是一种解决中央处理单元的内建自我测试的失败问题的方法，该方法通过基本输入输出系统的操作方式，对所提供的一多重处理器规范表及一进阶组态及电源接口表中代表可使用的中央处理单元的旗标值进行设定，以告知操作系统目前还有那些内建自我测试未失败的逻辑中央处理单元可被操作系统使用，如此，即可在完全无需增设额外硬件，且无需将整个实体中央处理单元(即“双核心”(Dual Core)及“超线程”(Hyper－Threading))设定成禁能状态的情形下，有效解决中央处理单元自我测试失败的问题，并完全使用到所有测试未失败的逻辑中央处理单元，使系统得以发挥其最大的效能。

著录项

  • 公开/公告号CN101089824A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英业达股份有限公司;

    申请/专利号CN200610091877.1

  • 发明设计人 卢盈志;

    申请日2006-06-13

  • 分类号G06F11/14;G06F9/445;G11C29/12;

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人任默闻

  • 地址 台湾省台北市士林区后港街66号

  • 入库时间 2023-12-17 19:32:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-07-15

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-02-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-12-19

    公开

    公开

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