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公开/公告号CN101106174A
专利类型发明专利
公开/公告日2008-01-16
原文格式PDF
申请/专利权人 三星电子株式会社;
申请/专利号CN200710104174.2
发明设计人 郑椙旭;孔晙赫;李智惠;赵栢衡;
申请日2007-05-21
分类号H01L45/00(20060101);H01L27/24(20060101);G11C11/56(20060101);
代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;
代理人林宇清;谢丽娜
地址 韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416番地
入库时间 2023-12-17 19:41:21
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-06-08
授权
2008-03-05
实质审查的生效
2008-01-16
公开
机译: 减少用于重置相变存储器件的存储单元中的一部分相变材料的重置电流的方法和相变存储器件
机译:重置相变存储单元中的电流缩放比例:建模和实验
机译:基于Ge2Sb2Te5的相变存储器件中的电流控制弛豫振荡
机译:通过在GeSbTe膜中进行碳掺杂来减少相变存储器件中的RESET电流
机译:碳掺杂的Ge2Sb2Te5相变存储器件,具有减小的RESET电流和功耗
机译:层状硫属化物相变存储器件。
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机译:一种用于高级相变存储器件仿真和开发的元胞自动机方法
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