• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中国专利> 一种利用光声干涉成像进行无损检测方法

一种利用光声干涉成像进行无损检测方法

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 法律信息
  • 相似文献

摘要

本发明公开了一种利用光声干涉成像进行无损检测的方法，所用器件包括泵浦激光器1、透镜2、检测激光器4、分光镜5、第一全反镜6、第一光束整形器7、白屏8、第二光束整形器9和第二全反镜10。利用该方法成像不用扫描，所成像既能反映材料表面的缺陷和均匀性，又能反映材料表面的光致声波，是材料表面无损检测和光致声波研究的一种新技术。

著录项

  • 公开/公告号CN101526483A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-09-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN200910058915.7

  • 发明设计人 高椿明;张希仁;赵斌兴;王占平;王亚非;周鹰;

    申请日2009-04-13

  • 分类号G01N21/88(20060101);G01N21/17(20060101);G01N29/34(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610054 四川省成都市建设北路2段4号

  • 入库时间 2023-12-17 22:31:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-07-13

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/88 公开日:20090909 申请日:20090413

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-11-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-09-09

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号