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提取材料断面轮廓曲线并实现断面轮廓分形表征的方法

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摘要

本发明公开提取材料断面轮廓曲线并实现断面轮廓分形表征的方法，包含以下步骤：获取断面的灰度图像；在灰度图像上标定一水平位置；然后用图像处理软件或分析软件获取该水平位置上各个像素点的灰度值；以像素点所在位置为横坐标，灰度值为纵坐标作图即得断面的灰度值轮廓曲线；进一步将灰度值轮廓曲线作成一个时间序列，根据分形维数求算原理和最小二乘法线性回归分析数据点并拟合曲线，得到灰度值轮廓曲线的分形维数；按照上述操作，从而求得五个不同的水平位置对应的轮廓曲线的分形维数值，取平均值作为断面轮廓分形维数的最后结果，实现材料断面轮廓的分形表征。本发明原理简单，操作方便，使用效果好。

著录项

  • 公开/公告号CN101571381A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-11-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN200910039881.7

  • 发明设计人 梁基照;吴成宝;

    申请日2009-06-02

  • 分类号G01B11/24(20060101);G01B7/28(20060101);G06T7/00(20060101);

  • 代理机构44102 广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人何淑珍

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-12-17 22:53:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-07-10

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B11/24 申请公布日:20091104 申请日:20090602

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2009-12-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-11-04

    公开

    公开

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