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一种背景因素对红外测温影响的测量方法

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摘要

本发明公开了一种背景因素对红外测温影响的测量方法。将标定实验数据存储于测量背景因素对红外测温影响的软件系统中；启动黑体、红外热像组件、工控机以及测量软件系统；当黑体恒定在某温度T后，软件系统通过图像采集卡采集并显示热图像视频，此时调整红外热像组件参数，待热图像清晰后，以bmp格式保存热图像；打开所保存的热图像，选择热图像中的黑体区域，系统读取黑体平均灰度，然后调用数据库查找T温度对应的标定灰度，再求平均灰度与标定灰度之差，差值定量反映了背景环境对红外测温影响的大小。本发明能定量测量出实际测温时背景对红外测温的影响，这一结果可以被运用到测温补偿中，最终能够提高测温的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN101806627A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量学院;

    申请/专利号CN201010136718.5

  • 发明设计人 陈乐;陈亮;孙坚;富雅琼;吴娟;郑恩辉;杭庆彪;

    申请日2010-03-30

  • 分类号G01J5/00(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林怀禹

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街

  • 入库时间 2023-12-18 00:39:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-02-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01J5/00 公开日:20100818 申请日:20100330

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-10-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/00 申请日:20100330

    实质审查的生效

  • 2010-08-18

    公开

    公开

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